高加速壽命測試（Highly Accelerated Life Testing，簡稱HALT測試）是一種對電子和機(jī)械裝配件利用快速高、低溫變換的高環(huán)境應(yīng)力來揭示設(shè)計缺陷和不足的過程。高加速壽命測試的目的是在，短時間內(nèi)即可進(jìn)行產(chǎn)品的失效原因分析，可在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。
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